良品学習型AIの進化！
NGを「見つける」から
「発生要因特定に繋げる」AIへ～AI外観検査システム「Observe AI」のご紹介～
このようなお客様におすすめ
- AI導入により、生産工程のDXを推進したい
- 従来の外観検査システムにおける過検知、見逃しに課題を感じている
- 複雑な良/不良の判定基準があり、システム化が難しい
- 外観検査を通して不良品が発生する要因を特定し、不良品発生の抑制に繋げたい
セミナー概要Seminar Outline
製造現場での外観検査におけるAI技術活用が進む中で、良/不良の判定基準が複雑でシステム対応が難しい、不良品が発生する要因が特定できないというお声を多くいただきます。良品学習型AI特有の課題や、製品固有の複雑な判定基準に対応するためには、複数の技術を組み合わせたAI外観検査システムが必要です。本セミナーでは、こうした課題解決にお役立ていただけるAI外観検査システム「Observe AI（オブザーブ・アイ）」の機能や特長、来年度追加予定の新機能についてご紹介します。
開催日時・場所Time and place
| 開催方法 | オンライン開催 |
|---|---|
| 日程 | 2024年2月21日（水） 15:00～15:30（14:45から接続いただけます） |
| 参加費 | 無料（事前申込制） |
| お申込み締切 | 2月20日（火）12:00 |
| 主催 | 株式会社電算 |
| 参加方法 | 本セミナーは、Zoomウェビナーを利用したオンラインセミナー形式で開催します。 お申込み後、開催日前日夕方に視聴URL等の詳細をご案内いたしますので、インターネットに接続されたPC・タブレット等にてご視聴ください。 ※お客様の端末・ネットワークの環境等によってはご視聴いただけない場合がございます。予めご了承のほどお願いいたします。 |
※お申込み多数の場合は受付を締め切らせていただく場合がございます
※セミナーの録音、撮影はご遠慮ください
※講演内容等は予告なく変更となる場合がございます
当セミナーのお申込みの受付は終了いたしました。
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